檢測(cè)方法

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試條件法（STC）

在輻照度1000W/m、AM1.5光譜分布、組件溫度25℃條件下，采用AAA級(jí)太陽模擬器進(jìn)行IV曲線掃描。通過三點(diǎn)法校準(zhǔn)確保光譜匹配度誤差≤2%

紅外熱成像分析（IR）

使用3.4-5μm波段熱像儀捕捉組件表面溫度場(chǎng)分布，識(shí)別≥3℃異常溫升區(qū)域。結(jié)合IV曲線數(shù)據(jù)定位隱裂或焊接缺陷位置

電致發(fā)光檢測(cè)（EL）

施加0.8-1.2倍標(biāo)稱電流激發(fā)載流子復(fù)合發(fā)光，通過CCD相機(jī)采集微裂紋、斷柵等缺陷圖像。要求暗室環(huán)境照度≤1lux且積分時(shí)間≤30s

動(dòng)態(tài)機(jī)械載荷試驗(yàn)（DML）

采用伺服液壓系統(tǒng)進(jìn)行1000次循環(huán)加載測(cè)試：正向壓力5400Pa保持1小時(shí)→卸載→反向壓力2400Pa保持1小時(shí)→卸載構(gòu)成完整周期

鹽霧腐蝕試驗(yàn)（SST）

依據(jù)IEC61701執(zhí)行6級(jí)嚴(yán)酷度測(cè)試：5%NaCl溶液連續(xù)噴霧96小時(shí)→干燥24小時(shí)→濕潤(rùn)儲(chǔ)存24小時(shí)構(gòu)成完整循環(huán)，共進(jìn)行4個(gè)循環(huán)周期

檢測(cè)儀器

A級(jí)太陽模擬器（ClassAAA）

-光譜匹配度：AM1.5G標(biāo)準(zhǔn)25%

-輻照不均勻度：≤2%@1000mm1000mm

-瞬態(tài)穩(wěn)定性：1%RMS波動(dòng)值

-符合IEC60904-9規(guī)范要求

IV曲線測(cè)試儀（IVTracer）

-電壓量程：0-100VDC0.1%F.S.

-電流量程：0-15ADC0.2%F.S.

-掃描速度：≥100ms/數(shù)據(jù)點(diǎn)

-內(nèi)置溫度補(bǔ)償算法（NOCT修正）

紅外熱像儀（ThermalCamera）

-NETD值：≤40mK@30℃

-空間分辨率：1.3mrad

-熱靈敏度：0.03℃

-支持多波段圖像融合分析功能

環(huán)境試驗(yàn)箱（ClimateChamber）

-溫控范圍：-70℃～+180℃0.5℃

-濕度范圍：10%RH～98%RH1.5%RH

-PID補(bǔ)償電壓：1500V可調(diào)

-UV老化光源：UVA-340燈管陣列

電能質(zhì)量分析儀（PowerAnalyzer）

-帶寬：DC-5MHz(-3dB)

-THD測(cè)量精度：0.05%(45Hz-65Hz)

-采樣率：5MS/s同步采樣

-EN50160/IEC61000-4-30認(rèn)證支持

機(jī)械載荷試驗(yàn)臺(tái)（MechanicalLoadTester）

-最大加載力：10kN1%F.S.

-X-Y向定位精度：0.1mm

-壓力分布均勻性：≥95%

-ISO/IEC17025校準(zhǔn)證書標(biāo)配提供

檢測(cè)流程

1、咨詢：提品資料(說明書、規(guī)格書等)

2、確認(rèn)檢測(cè)用途及項(xiàng)目要求

3、填寫檢測(cè)申請(qǐng)表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)

4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測(cè))

5、收到樣品，安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測(cè)

6、檢測(cè)出相關(guān)數(shù)據(jù)，編寫報(bào)告草件，確認(rèn)信息是否無誤

7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件

8、寄送報(bào)告原件