因業務調整，部分個人測試暫不接受委托，望見諒。

檢測項目

Ra（算術平均偏差）、Rz（最大高度）、Rq（均方根偏差）、Rt（總高度）、Rp（最大峰高）、Rv（最大谷深）、Rsk（偏斜度）、Rku（陡度）、Rsm（輪廓單元平均寬度）、Rmr（輪廓支承長度率）、Rc（輪廓谷深）、Rdq（動態摩擦系數）、Rδc（相對支承長度）、Rλq（均方根波長）、RΔq（均方根斜率）、Rlo（油膜保持性參數）、Rpc（峰計數）、Rk（核心粗糙度深度）、Mr1（材料率1區）、Mr2（材料率2區）、Vo（油囊體積）、Rvk（縮減的谷深）、Rpk（縮減的峰高）、Wt（波紋度總高度）、Wa（波紋度算術平均值）、Wz（波紋度最大高度）、Pc（峰密度）、Str（表面紋理方向度）、Sal（自相關長度）、Sdr（界面擴展比

檢測范圍

精密軸承滾道面、發動機缸體內壁、液壓閥芯配合面、光學透鏡拋光面、半導體晶圓切割面、渦輪葉片氣動表面、模具型腔工作面、齒輪嚙合齒面、活塞環外圓面、導軌滑動面、密封端面、刀具切削刃口、軸類零件配合面、法蘭密封槽底、醫療器械植入表面、PCB板銅箔層、3D打印成型面、金屬軋輥工作面、陶瓷基板研磨面、復合材料層壓界面、橡膠密封件接觸面、螺紋牙型工作面、電鍍層截面輪廓、激光熔覆層表面、磁頭浮動面、微機電系統組件表面、人工關節球面、太陽能電池硅片表面、燃料電池雙極板流道面

檢測方法

觸針式輪廓法：通過金剛石探針機械掃描表面輪廓，適用于Ra0.01-10μm范圍的精密測量。

白光干涉法：利用光學干涉原理重建三維形貌，分辨率達納米級，適合超光滑表面分析。

激光散射法：基于光散射強度與表面粗糙度的相關性實現非接觸測量。

原子力顯微鏡：原子級分辨率的三維形貌測量技術，適用于納米級粗糙度表征。

共聚焦顯微鏡：通過光學切片技術獲取高精度三維表面數據。

數字全息術：利用激光全息記錄與重建實現動態表面形貌測量。

電容式測量法：基于極距變化引起的電容值變化推算表面粗糙度。

超聲波反射法：通過聲波反射特性分析評估大尺寸工件表面狀態。

檢測標準

ISO4287:1997《幾何產品規范(GPS)表面結構:輪廓法術語,定義及表面結構參數》
ISO4288:1996《幾何產品規范(GPS)表面結構:輪廓法評定表面結構的規則和方法》
GB/T1031-2009《產品幾何技術規范(GPS)表面結構輪廓法表面粗糙度參數及其數值》
ASMEB46.1-2019《表面紋理(表面粗糙度,波紋度和鋪紋)》
DINENISO25178-2:2012《幾何產品規范(GPS)-表面結構:區域-第2部分:術語,定義及表面結構參數》
JISB0601:2013《產品幾何特性規范(GPS)-表面結構:輪廓法-術語,定義及表面結構參數》
ASTMD7127-13《用觸針式儀器測量涂層表面粗糙度的標準試驗方法》
ISO13565-2:1996《幾何產品規范(GPS)表面結構:輪廓法具有分層功能特性的表面第2部分:用線性材料比率曲線表示的高度特性》
GB/T12472-2003《產品幾何量技術規范(GPS)表面結構輪廓法木制件表面粗糙度參數及其數值》
ISO21920-2:2021《幾何產品規范(GPS)表面結構:輪廓法第2部分:術語,定義及表面結構參數》

檢測儀器

接觸式輪廓儀：配備金剛石探針的精密機械掃描系統，典型分辨率0.8nm垂直/0.1μm水平。

白光干涉三維形貌儀：采用LED寬光譜光源實現亞納米級垂直分辨率。

激光共聚焦顯微鏡：具備405nm激光光源與壓電陶瓷掃描臺的空間分辨能力達120nm。

原子力顯微鏡(AFM)：懸臂探針與光杠桿系統組合實現原子級三維成像。

便攜式粗糙度計：集成加速度補償的現場測量設備，符合IP65防護等級。

三維光學輪廓儀：基于相移干涉技術實現0.01nm垂直分辨率的大視場測量。

工業內窺鏡測量系統：配備微型探針的管道內壁專用檢測裝置。

多傳感器測量平臺：集成接觸式與非接觸式探頭的復合測量系統。

檢測流程

1、咨詢：提品資料(說明書、規格書等)

2、確認檢測用途及項目要求

3、填寫檢測申請表(含公司信息及產品必要信息)

4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測)

5、收到樣品，安排費用后進行樣品檢測

6、檢測出相關數據，編寫報告草件，確認信息是否無誤

7、確認完畢后出具報告正式件

8、寄送報告原件