因業(yè)務(wù)調(diào)整，部分個(gè)人測(cè)試暫不接受委托，望見(jiàn)諒。

檢測(cè)項(xiàng)目

液態(tài)金屬電導(dǎo)率、動(dòng)態(tài)粘度系數(shù)、熱膨脹系數(shù)、表面張力值、相變溫度點(diǎn)、密度梯度分布、氧化膜厚度、雜質(zhì)元素含量（鈉、鉀、鋰）、非金屬夾雜物濃度、熱導(dǎo)率參數(shù)、電磁屏蔽效能、腐蝕速率測(cè)定、熔融態(tài)流動(dòng)性指數(shù)、凝固收縮率、電阻溫度系數(shù)、霍爾效應(yīng)參數(shù)、塞貝克系數(shù)、磁化率特征值、介電損耗角正切值、電子遷移率參數(shù)、熱電勢(shì)差測(cè)量、液態(tài)結(jié)構(gòu)X射線(xiàn)衍射分析、聲速傳播特性、中子散射截面數(shù)據(jù)、放射性同位素分布譜、氣液界面接觸角測(cè)量、電極極化曲線(xiàn)繪制、電流噪聲頻譜分析、微觀形貌SEM表征

檢測(cè)范圍

鎵基液態(tài)合金（Ga-In-Sn）、鉍基低熔點(diǎn)合金（Bi-Pb-Sn-Cd）、鈉鉀共晶合金（NaK）、汞齊合金（Hg-Ag-Cu）、鉛鉍共晶合金（Pb-Bi）、鋰錫合金（Li-Sn）、鋅鋁超晶格合金（Zn-Al）、銅銀熔融焊料（Cu-Ag）、銦鎵鋅氧化物半導(dǎo)體（IGZO）、釓鎵石榴石磁流體（Gd-Ga-GGG）、鋯基液態(tài)金屬冷卻劑（Zr-Fe-Cr）、銫金汞齊（Cs-Au-Hg）、銣鉍高溫工質(zhì)（Rb-Bi）、碲化鎘熔鹽體系（Cd-Te）、釹鐵硼熔融磁體（Nd-Fe-B）、錫鋅無(wú)鉛焊料（Sn-Zn）、鋁硅鑄造合金（Al-Si）、鎂鋰超輕合金（Mg-Li）、鎢鉬高溫熔體（W-Mo）、鈷鉻牙科合金（Co-Cr）、鎳鈦形狀記憶合金（Ni-Ti）、鈾鋯核燃料載體（U-Zr）、鉭鈮超導(dǎo)熔體（Ta-Nb）、鈧釔稀土合金（Sc-Y）、鍺硅半導(dǎo)體熔體（Ge-Si）、錳銅精密電阻合金（Mn-Cu）、銀氧化錫電觸頭材料（Ag-SnO?）、銥釕耐蝕電極材料（Ir-Ru）、鈀鎳氫分離膜材料（Pd-Ni）

檢測(cè)方法

1.四探針?lè)ǎ夯赩anderPauw原理的非破壞性測(cè)量技術(shù)，通過(guò)四電極接觸實(shí)現(xiàn)液態(tài)金屬體電阻率的精確測(cè)定2.旋轉(zhuǎn)磁場(chǎng)法：利用交變磁場(chǎng)誘導(dǎo)渦流效應(yīng)計(jì)算電導(dǎo)率值，適用于高溫腐蝕性熔體的非接觸式測(cè)量3.微波諧振腔法：通過(guò)測(cè)量微波在介質(zhì)中的傳播特性變化推算電導(dǎo)率參數(shù)4.交流阻抗譜法：采用頻率掃描技術(shù)分離界面極化阻抗與本體溶液阻抗5.毛細(xì)管振蕩法：通過(guò)熔體在振蕩毛細(xì)管中的阻尼特性計(jì)算動(dòng)態(tài)粘度與電導(dǎo)率的耦合參數(shù)6.激光閃光法：結(jié)合瞬態(tài)熱傳導(dǎo)模型同步測(cè)定熱擴(kuò)散率和電導(dǎo)率7.磁懸浮量熱法：利用強(qiáng)磁場(chǎng)懸浮樣品消除容器污染影響8.X射線(xiàn)吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜：解析液態(tài)金屬近鄰原子配位結(jié)構(gòu)對(duì)導(dǎo)電性能的影響9.中子反射技術(shù)：研究氣液界面雙電層結(jié)構(gòu)對(duì)表面導(dǎo)電特性的調(diào)控機(jī)制10.同步輻射X射線(xiàn)衍射：實(shí)時(shí)觀測(cè)熔體微觀結(jié)構(gòu)動(dòng)態(tài)演變過(guò)程

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

ASTMB193-20《導(dǎo)電材料電阻率測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)規(guī)程》ISO17405:2014《金屬材料-液態(tài)金屬物理性能測(cè)試通則》GB/T351-2019《金屬材料電阻系數(shù)測(cè)量方法》IEC60468:1974《金屬材料電阻率測(cè)量方法》JISH0505:2012《非鐵金屬材料導(dǎo)電率測(cè)定方法》DIN50984:1987《液態(tài)金屬腐蝕試驗(yàn)方法》EN12498:2018《核反應(yīng)堆用液態(tài)金屬冷卻劑測(cè)試規(guī)范》ASMENQA-1-2019《核設(shè)施用液態(tài)金屬質(zhì)量保證要求》MIL-STD-883J《微電子器件用液態(tài)金屬封裝材料測(cè)試方法》IEEE2901-2019《柔性電子用液態(tài)金屬功能材料測(cè)試指南》

檢測(cè)儀器

1.四探針電導(dǎo)率測(cè)試系統(tǒng)：配備高溫藍(lán)寶石觀察窗的真空密閉腔體，工作溫度范圍-196℃~1600℃2.旋轉(zhuǎn)式電磁粘度計(jì)：集成扭矩傳感器和磁場(chǎng)發(fā)生裝置的雙軸旋轉(zhuǎn)系統(tǒng)3.微波網(wǎng)絡(luò)分析儀：覆蓋300MHz-40GHz頻段的矢量信號(hào)分析設(shè)備4.激光閃射導(dǎo)熱儀：配備紅外探測(cè)器的納秒級(jí)脈沖激光系統(tǒng)5.X射線(xiàn)熒光光譜儀：配備液氮冷卻硅漂移探測(cè)器的多元素分析裝置6.磁懸浮熔煉裝置：采用超導(dǎo)磁體實(shí)現(xiàn)無(wú)容器樣品懸浮的真空熔煉系統(tǒng)7.同步輻射原位觀測(cè)平臺(tái)：集成高速X射線(xiàn)成像與光譜分析功能的實(shí)驗(yàn)站8.原子探針層析儀：具備三維原子分辨率的三維成分分析設(shè)備9.動(dòng)態(tài)光散射儀：采用532nm激光源的納米顆粒運(yùn)動(dòng)軌跡追蹤系統(tǒng)10.太赫茲時(shí)域光譜儀：0.1-10THz頻段的寬頻介電特性測(cè)試裝置

檢測(cè)流程

1、咨詢(xún)：提品資料(說(shuō)明書(shū)、規(guī)格書(shū)等)

2、確認(rèn)檢測(cè)用途及項(xiàng)目要求

3、填寫(xiě)檢測(cè)申請(qǐng)表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)

4、按要求寄送樣品(部分可上門(mén)取樣/檢測(cè))

5、收到樣品，安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測(cè)

6、檢測(cè)出相關(guān)數(shù)據(jù)，編寫(xiě)報(bào)告草件，確認(rèn)信息是否無(wú)誤

7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件

8、寄送報(bào)告原件