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發布時間:2025-04-09
關鍵詞:眼鏡架金屬鍍層厚度測試方法 X熒光光譜法檢測
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來源:北京中科光析科學技術研究所
因業務調整,部分個人測試暫不接受委托,望見諒。
眼鏡架作為日常佩戴的重要光學配件,其質量直接影響佩戴舒適性和安全性。金屬鍍層是眼鏡架制造中的關鍵工藝環節,鍍層厚度不僅影響產品的外觀和耐腐蝕性,還與人體健康密切相關(如鎳釋放量超標可能引發過敏)。因此,準確檢測金屬鍍層的厚度和成分對質量控制具有重要意義。X射線熒光光譜法(XRF)作為一種非破壞性、快速且高精度的檢測技術,廣泛應用于鍍層厚度分析領域。該方法通過測量鍍層金屬元素特征X射線的強度,結合標準曲線或數學模型,實現對鍍層厚度及成分的定量分析,成為眼鏡架鍍層檢測的主流手段。
X射線熒光光譜法適用于眼鏡架金屬鍍層的以下場景:
鍍層厚度檢測 XRF法通過測量鍍層金屬元素的特征X射線強度,結合已知厚度標準樣品建立校準曲線,計算待測樣品的鍍層厚度。該方法可精確至0.01微米級別,尤其適用于微米級鍍層的非破壞性分析。
鍍層成分分析 通過全譜掃描識別鍍層中金屬元素的種類及含量比例,例如檢測鎳釋放量是否符合歐盟REACH法規(鎳含量≤0.5μg/cm²/week)。
鍍層均勻性評估 對眼鏡架不同部位(如鏡腿鉸鏈、鼻托等)進行多點測量,分析鍍層厚度的分布均勻性,評估工藝穩定性。
GB/T 3808-2021 《金屬覆蓋層 厚度測量 X射線光譜法》 規定了XRF法測量金屬鍍層厚度的通用要求及校準方法。
ISO 3497:2020 Metallic coatings—Measurement of coating thickness—X-ray spectrometric methods 國際標準,詳細說明了多層鍍層的測試程序及誤差控制。
ASTM B568-98(2022) Standard Test Method for Measurement of Coating Thickness by X-ray Spectrometry 美國材料與試驗協會標準,適用于鍍層厚度與成分的同步分析。
樣品制備
儀器校準
參數設置
測試過程
數據分析
能量色散型X熒光光譜儀(ED-XRF)
波長色散型X熒光光譜儀(WD-XRF)
專用鍍層測厚儀
優勢:
局限性:
X射線熒光光譜法憑借其高效、精準的特點,已成為眼鏡架金屬鍍層檢測的權威方法。隨著微型X射線管、硅漂移探測器(SDD)等技術的進步,未來將進一步拓展其在納米級鍍層和復雜結構分析中的應用。生產企業及檢測機構需持續關注標準更新(如ISO 3497:2020對多層鍍層算法的修訂),并強化人員操作培訓,以確保檢測結果的準確性與國際互認性。