中析研究所檢測中心
400-635-0567
中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
公司地址:
北京市豐臺區(qū)航豐路8號院1號樓1層121[可寄樣]
投訴建議:
010-82491398
報告問題解答:
010-8646-0567
檢測領(lǐng)域:
成分分析,配方還原,食品檢測,藥品檢測,化妝品檢測,環(huán)境檢測,性能檢測,耐熱性檢測,安全性能檢測,水質(zhì)檢測,氣體檢測,工業(yè)問題診斷,未知成分分析,塑料檢測,橡膠檢測,金屬元素檢測,礦石檢測,有毒有害檢測,土壤檢測,msds報告編寫等。
發(fā)布時間:2025-04-10
關(guān)鍵詞:首飾金銀覆蓋層厚度X射線熒光光譜法檢測
瀏覽次數(shù):
來源:北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
因業(yè)務(wù)調(diào)整,部分個人測試暫不接受委托,望見諒。
隨著珠寶首飾行業(yè)的快速發(fā)展,消費者對貴金屬首飾的質(zhì)量要求日益提高。覆蓋層厚度作為衡量首飾鍍層工藝的重要指標,直接影響產(chǎn)品的耐久性、外觀及貴金屬含量。傳統(tǒng)的化學(xué)分析法或破壞性檢測方法不僅耗時費力,還可能對樣品造成不可逆的損傷。X射線熒光光譜法(X-ray Fluorescence Spectroscopy, XRF)作為一種非破壞性、高效精準的分析技術(shù),近年來在首飾檢測領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。該方法通過測量鍍層材料受激發(fā)后釋放的特征X射線,能夠快速測定覆蓋層的厚度及成分,為生產(chǎn)質(zhì)量控制與市場監(jiān)管提供了可靠依據(jù)。
X射線熒光光譜法適用于各類貴金屬首飾的覆蓋層厚度檢測,尤其針對金、銀及其合金的鍍層或包覆層。具體應(yīng)用場景包括:
覆蓋層厚度測定 通過測量鍍層材料特征X射線的強度,結(jié)合標樣校準,直接計算覆蓋層厚度。此項目是評估鍍層工藝的核心指標,直接影響首飾的抗磨損能力與貴金屬含量。
元素成分分析 檢測鍍層及基底材料的元素組成,例如確定鍍金層是否為足金(Au≥99.9%)或K金(含銅、銀等合金元素)。此項目可驗證材料是否符合國家標準或企業(yè)規(guī)范。
鍍層均勻性評估 通過多點掃描或面分布分析,評估鍍層在首飾表面的分布均勻性。均勻性不足可能導(dǎo)致局部過早磨損或變色。
貴金屬含量驗證 結(jié)合厚度與成分數(shù)據(jù),計算首飾整體貴金屬含量(如黃金總質(zhì)量),為成色標注提供依據(jù)。
有害物質(zhì)篩查 部分鍍層工藝可能引入鉛、鎘等有害元素,XRF可快速篩查其是否超出安全限值(如歐盟REACH法規(guī)要求)。
以下為國內(nèi)外常用的檢測標準:
GB/T 18043-2019《首飾貴金屬覆蓋層厚度測定方法 X射線熒光光譜法》 中國國家標準,規(guī)定了XRF法測定金、銀、鉑等貴金屬覆蓋層厚度的技術(shù)要求與操作流程。
ISO 3497:2000《金屬覆蓋層 厚度的測量 X射線光譜法》 國際通用標準,涵蓋多層鍍層厚度測量方法,適用于工業(yè)與珠寶領(lǐng)域。
ASTM B568-98(2019)《通過X射線光譜法測量鍍層厚度的標準試驗方法》 美國材料與試驗協(xié)會標準,強調(diào)儀器校準與測量不確定度控制。
檢測流程
常用儀器類型
能量色散型XRF光譜儀(ED-XRF) 特點:無需分光晶體,探測器直接接收多元素信號,分析速度快(單次測量約30-60秒)。 代表型號:賽默飛世爾Niton XL3t、牛津儀器X-MET8000。
波長色散型XRF光譜儀(WD-XRF) 特點:通過分光晶體分離特征X射線,分辨率更高,適合復(fù)雜成分樣品。 代表型號:布魯克S8 TIGER、島津EDX-7000。
技術(shù)優(yōu)勢與局限性
X射線熒光光譜法憑借其高效性與非破壞性,已成為首飾行業(yè)覆蓋層檢測的主流手段。通過標準化操作與先進儀器的結(jié)合,該方法不僅能保障產(chǎn)品質(zhì)量,還可幫助企業(yè)優(yōu)化鍍層工藝、降低貴金屬損耗。隨著微型X射線管與高分辨率探測器的發(fā)展,未來XRF技術(shù)將進一步提升對超薄鍍層與復(fù)雜結(jié)構(gòu)的檢測能力,為珠寶首飾行業(yè)的可持續(xù)發(fā)展提供更強支撐。