中析研究所檢測中心
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中科光析科學技術研究所
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發布時間:2025-07-18
關鍵詞:表面粗糙度拋光測試周期,表面粗糙度拋光測試方法,表面粗糙度拋光測試案例
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來源:北京中科光析科學技術研究所
因業務調整,部分個人測試暫不接受委托,望見諒。
Ra值測定:測量表面的算術平均偏差。檢測參數:范圍0.01-100 μm,精度±0.05 μm。
Rz值測定:評估最大高度粗糙度。檢測參數:范圍0.1-200 μm,分辨率0.02 μm。
Rq值測定:計算均方根粗糙度。檢測參數:范圍0.01-150 μm,誤差率2%以內。
Rt值測定:確定總高度輪廓粗糙度。檢測參數:范圍0.1-250 μm,重復性0.03 μm。
Rp值測定:測量最大峰高。檢測參數:范圍0.05-100 μm,精度±0.04 μm。
Rv值測定:評估最大谷深。檢測參數:范圍0.05-100 μm,分辨率0.02 μm。
Rsm值測定:計算平均間距。檢測參數:范圍0.1-500 μm,公差±10%以內。
Rsk值測定:分析輪廓偏度。檢測參數:范圍-3至+3,靈敏度0.1單位。
Rku值測定:評估輪廓峰度。檢測參數:范圍0-10,精度±0.2單位。
Rmr值測定:測定材料比率。檢測參數:范圍0-100%,誤差±1%以內。
Rδc值測定:計算輪廓核心深度。檢測參數:范圍0.1-50 μm,重復性0.05 μm。
Rλa值測定:評估波長過濾粗糙度。檢測參數:范圍0.01-50 μm,分辨率0.01 μm。
不銹鋼材料:高強度耐腐蝕合金拋光表面。
鋁合金部件:輕質航空組件表面處理。
鈦合金植入物:醫療假體拋光輪廓。
軸承滾道:機械旋轉部件表面光潔度。
齒輪齒面:傳動系統磨損評估。
光學鏡片:精密成像元件粗糙度控制。
半導體晶圓:電子芯片表面平坦度。
汽車活塞:引擎組件摩擦性能。
模具型腔:注塑成型表面紋理。
刀具刃口:切削工具耐磨性分析。
管道內壁:流體系統流動阻力評估。
手表外殼:裝飾性拋光美學要求。
ISO 4287:1997 幾何產品規范(GPS) — 表面結構:輪廓法 — 術語、定義和表面結構參數。
ISO 4288:1996 幾何產品規范(GPS) — 表面結構:輪廓法 — 規則和程序評定表面結構。
ASME B46.1-2019 表面紋理標準。
GB/T 1031-2009 產品幾何技術規范(GPS)表面結構輪廓法表面粗糙度參數及其數值。
GB/T 3505-2000 產品幾何技術規范(GPS)表面結構輪廓法術語定義及表面結構參數。
ASTM D7127-13 工業表面拋光粗糙度測量標準指南。
DIN 4768:1990 表面粗糙度測量參數定義。
JIS B 0601:2013 表面粗糙度定義及表示。
GB/T 6060.2-2019 表面粗糙度比較樣塊第2部分:拋光和精加工表面。
ISO 13565-2:1996 幾何產品規范(GPS)表面結構:輪廓法具有分層功能特性的表面第2部分:高度特性使用線性材料比率曲線。
表面輪廓儀:接觸式探針測量表面高度變化。具體功能:用于Ra、Rz等參數的直接輪廓掃描。
光學干涉儀:非接觸式光波干涉分析表面形貌。具體功能:評估拋光表面微觀起伏和缺陷。
激光掃描顯微鏡:高分辨率3D表面重建裝置。具體功能:測量Rq、Rsk等參數的空間分布。
白光干涉儀:寬光譜光源干涉測量系統。具體功能:檢測拋光表面均勻性和波長過濾粗糙度。
原子力顯微鏡:納米級探針掃描表面原子結構。具體功能:分析超精密拋光表面形貌。
共焦顯微鏡:焦點深度掃描成像儀器。具體功能:測量光學拋光表面的Rmr和Rδc參數。
電子輪廓計:非接觸式電子束掃描裝置。具體功能:用于高溫或敏感表面的粗糙度檢測。
粗糙度標準比對塊:校準用參考表面樣本。具體功能:驗證測量儀器精度和一致性。
1、咨詢:提品資料(說明書、規格書等)
2、確認檢測用途及項目要求
3、填寫檢測申請表(含公司信息及產品必要信息)
4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測)
5、收到樣品,安排費用后進行樣品檢測
6、檢測出相關數據,編寫報告草件,確認信息是否無誤
7、確認完畢后出具報告正式件
8、寄送報告原件