中析研究所檢測中心
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中科光析科學技術研究所
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發布時間:2025-07-04
關鍵詞:碳化硅場效應管測試機構,碳化硅場效應管測試標準,碳化硅場效應管測試儀器
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來源:北京中科光析科學技術研究所
因業務調整,部分個人測試暫不接受委托,望見諒。
閾值電壓檢測:測量器件開啟時的柵極電壓,典型范圍2.0~4.0V,精度±0.1V。
導通電阻檢測:評估導通狀態下漏源極間電阻,測量范圍1mΩ~1Ω,誤差≤2%。
擊穿電壓檢測:確定器件最大耐受電壓,測試電壓范圍600~1700V,步進精度1V。
柵電荷檢測:測量柵極充電電荷總量,參數Qg范圍50~500nC,分辨率0.1nC。
開關時間檢測:包括開通延遲時間(td(on))和上升時間(tr),時間范圍10ns~100μs,精度±1ns。
熱阻檢測:評估結殼熱阻,測量值Rth(j-c)范圍0.1~5.0℃/W,溫控精度±0.5℃。
漏電流檢測:測試關斷狀態漏電流,電流范圍1nA~1mA,靈敏度1pA。
動態導通電阻檢測:測量開關過程中的電阻變化,參數Rds(on)動態范圍±10%,采樣率1MHz。
米勒電容檢測:評估柵漏電容Cgd,電容值范圍100pF~10nF,頻率響應100kHz~10MHz。
高溫反偏測試:施加反向電壓于高溫環境,測試條件溫度125~175℃,電壓500~1000V。
雪崩能量檢測:測量器件承受雪崩擊穿的能量,能量范圍1~100mJ,脈沖寬度100ns~10μs。
短路耐受能力測試:模擬短路狀態,測試時間范圍1~10μs,電流測量精度±5%。
柵極氧化物完整性檢測:評估柵極絕緣層可靠性,測試電壓范圍20~50V,泄漏電流閾值<1μA。
溫度系數檢測:分析電阻參數隨溫度變化,溫度范圍-55~175℃,系數范圍±0.5%/℃。
SiC晶圓:檢測碳化硅襯底材料質量和表面缺陷。
SiC MOSFET裸片:評估單個器件芯片的電氣和熱性能。
SiC功率模塊:測試集成模塊在高壓高電流下的整體可靠性。
新能源汽車逆變器:針對電動汽車驅動系統的功率轉換效率檢測。
太陽能光伏逆變器:評估太陽能發電系統中的器件穩定性和效率。
工業變頻器:檢測工業電機控制設備中的開關損耗和熱管理。
鐵路牽引系統:應用于高速列車電源轉換器的耐久性測試。
航空航天電源:評估航空電子設備的高溫高壓環境適應性。
數據中心電源:測試服務器電源模塊的節能性能和可靠性。
消費電子充電器:針對快速充電設備的開關特性檢測。
醫療設備電源:應用于醫療儀器高壓電源的絕緣安全性評估。
可再生能源儲能系統:檢測電池管理系統中的功率器件效率。
電機驅動器:評估工業機械驅動電路的動態響應性能。
軍用電子設備:針對軍事領域極端環境下的耐久測試。
智能電網設備:檢測電網轉換器的過壓保護和穩定性。
依據ASTM F1248標準進行熱阻測量。
遵循ISO 16750規范評估汽車電子環境可靠性。
采用GB/T 15291方法測試半導體參數特性。
依據JEDEC JESD22-A108標準執行高溫反偏測試。
遵循IEC 60749系列標準進行氣候環境耐久性評估。
采用GB/T 2423系列標準模擬高低溫循環測試。
依據ASTM D257規范測量絕緣電阻參數。
遵循ISO 9001質量管理體系要求進行檢測流程。
采用GB/T 17626標準評估電磁兼容性能。
依據JEDEC JESD78標準執行靜電放電測試。
遵循IPC-9701規范進行機械應力可靠性評估。
采用GB/T 5097標準測試開關時間動態參數。
半導體參數分析儀:測量器件閾值電壓、導通電阻等靜態參數,支持電壓范圍±200V,電流分辨率1fA。
功率器件分析儀:評估開關時間、柵電荷等動態性能,功能包括高速脈沖生成和波形捕獲。
熱阻測試儀:檢測結殼熱阻和溫度系數,配備熱電偶接口,溫控精度±0.1℃。
高速示波器:記錄開關波形和瞬態響應,帶寬范圍1GHz,采樣率20GS/s。
環境試驗箱:用于高溫反偏和溫度耐久測試,溫度范圍-70~200℃,濕度控制精度±2%RH。
動態導通電阻測試儀:測量開關過程中的電阻變化,支持實時數據采集,采樣速率1MS/s。
雪崩能量測試系統:施加高壓脈沖評估器件耐受能力,電壓范圍0~2000V,能量測量精度±3%。
漏電流測試儀:檢測關斷狀態泄漏電流,電流測量范圍1pA~1mA,分辨率0.1pA。
電容測試儀:評估米勒電容和寄生參數,頻率范圍100Hz~10MHz,電容分辨率0.1pF。
短路測試平臺:模擬短路工況,電流測量范圍0~100A,時間控制精度1μs。
1、咨詢:提品資料(說明書、規格書等)
2、確認檢測用途及項目要求
3、填寫檢測申請表(含公司信息及產品必要信息)
4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測)
5、收到樣品,安排費用后進行樣品檢測
6、檢測出相關數據,編寫報告草件,確認信息是否無誤
7、確認完畢后出具報告正式件
8、寄送報告原件