因業務調整，部分個人測試暫不接受委托，望見諒。

檢測項目

附著力測試、膜層厚度測量、表面粗糙度分析、硬度測試、折射率測定、透光率/反射率評估、耐腐蝕性試驗、耐磨性測試、孔隙率檢測、熱穩定性驗證、導電性能測試、應力分布分析、成分純度檢驗、界面結合強度測定、色差控制、均勻性評價、抗劃傷性能測試、耐高溫氧化性驗證、疏水性/親水性表征、抗紫外線老化試驗、電阻率測量、介電常數分析、紅外透過率檢測、微觀結構觀察（晶型/缺陷）、結合能譜分析（元素分布）、殘余應力測試、摩擦系數測定、氣密性檢驗、抗剝離強度評估

檢測范圍

光學鏡頭鍍膜層、太陽能電池板減反射膜層、半導體封裝金屬化層、汽車燈罩防霧涂層、醫療器械抗菌鍍層、航空航天熱障涂層、手機屏幕防指紋膜層、刀具硬質耐磨涂層、光伏玻璃增透膜層、柔性電路板導電薄膜層、LED芯片封裝保護膜層、精密模具脫模涂層層狀復合材料界面鍍層核反應堆防護涂層衛星天線反射膜層鋰電池集流體導電涂層建筑玻璃Low-E膜層光纖通信濾光片鍍層微電子元件電磁屏蔽膜層包裝材料阻隔膜層傳感器敏感功能膜層燃料電池催化涂層船舶防腐涂層人工關節生物相容性鍍層消費電子觸控屏ITO膜層

檢測方法

1.**劃格法（ASTMD3359）**：使用精密刀具在鍍層表面切割網格圖案，通過膠帶剝離后觀察脫落面積評估附著力等級2.**X射線熒光光譜法（ISO3497）**：利用X射線激發樣品原子產生特征熒光信號，非破壞性測定多層膜厚度及元素組成3.**白光干涉儀（ISO25178）**：通過相干光干涉條紋分析表面三維形貌，量化納米級粗糙度與波紋度參數4.**納米壓痕法（ISO14577）**：采用金剛石壓頭施加微牛級載荷，計算硬度與彈性模量并繪制載荷-位移曲線5.**橢偏儀（ASTME903）**：測量偏振光經薄膜反射后的相位/振幅變化反演折射率與消光系數6.**鹽霧試驗（ISO9227）**：模擬海洋氣候環境加速腐蝕過程，定量評估鍍層耐蝕性與失效時間7.**摩擦磨損試驗機（ASTMG133）**：通過球-盤接觸模式循環加載測定摩擦系數與磨損體積8.**掃描電鏡-能譜聯用（SEM-EDS）**：高分辨率成像結合元素面掃分析微觀結構缺陷與成分偏析

檢測標準

ISO9227:2017《人造氣氛腐蝕試驗鹽霧試驗》ASTMB499-14《磁性法測量磁性基底上非磁性覆蓋層厚度標準試驗方法》GB/T3138-2015《金屬覆蓋層厚度測量陽極溶解庫侖法》ISO1463:2021《金屬和氧化物覆蓋層橫斷面厚度顯微鏡測量法》ASTMD3359-23《通過膠帶試驗評估附著力的標準試驗方法》IEC61755-3-6:2020《光纖連接器端面鍍膜光學性能測試規范》JISH8504:2019《金屬覆蓋層的耐腐蝕性試驗方法》ISO20565-1:2008《色漆和清漆涂層的耐劃痕性測定》GB/T1771-2007《色漆和清漆耐中性鹽霧性能的測定》ASTMF1842-15《真空沉積薄膜應力測量的標準試驗方法》

檢測儀器

1.**臺階儀（DektakXT）**：接觸式探針掃描測量亞微米級臺階高度與薄膜厚度偏差2.**原子力顯微鏡（BrukerDimensionIcon）**：納米級分辨率表征表面形貌與機械性能映射3.**輝光放電光譜儀（GDA750）**：逐層剝離分析多層膜成分深度分布與雜質含量4.**四探針電阻測試儀（Loresta-GXMCP-T700）**：精準測量透明導電薄膜方阻與載流子遷移率5.**激光共聚焦拉曼光譜儀（LabRAMHREvolution）**：無損識別薄膜晶體結構相變與應力誘導峰位移6.**熱重分析儀（TGA/DSC3+）**：程序控溫監測鍍層熱分解溫度與氧化增重動力學參數7.**氦質譜檢漏儀（ASM340）**：高靈敏度探測真空鍍膜器件微米級漏孔導致的密封失效

檢測流程

1、咨詢：提品資料(說明書、規格書等)

2、確認檢測用途及項目要求

3、填寫檢測申請表(含公司信息及產品必要信息)

4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測)

5、收到樣品，安排費用后進行樣品檢測

6、檢測出相關數據，編寫報告草件，確認信息是否無誤

7、確認完畢后出具報告正式件

8、寄送報告原件