因業務調整，部分個人測試暫不接受委托，望見諒。

檢測項目

老化測試座的核心檢測項目包含六大關鍵指標：接觸電阻穩定性驗證（DC 10mA-1A）、絕緣電阻衰減測試（500VDC）、介電強度驗證（AC 1500V/1min）、機械耐久性評估（5000次插拔循環）、溫濕度交變試驗（-55℃~125℃/95%RH）、鹽霧腐蝕試驗（5%NaCl/48h）。其中接觸阻抗波動值需控制在±5mΩ范圍內，插拔力衰減率不得超過初始值的15%。

特殊應用場景需增加氣密性檢測（氦質譜檢漏≤1×10^-9 Pa·m3/s）與高頻特性驗證（40GHz VSWR≤1.5）。針對大電流連接器需執行100A連續載流試驗（ΔT≤30K），高密度連接器須通過0.35mm間距的絕緣耐壓測試。

檢測范圍

本檢測體系適用于各類金屬合金（磷青銅/鈹銅/鎳鈦合金）及工程塑料（LCP/PPS/PEI）材質的測試插座。涵蓋DIP/SOP/QFP/BGA等封裝接口類型，支持0.4mm~2.54mm間距規格檢測。特殊場景包含：

高溫老化座（MAX 200℃持續工作）

高頻測試座（40GHz信號完整性）

大電流治具（100A持續載流能力）

微間距適配器（0.35mm pitch精度）

適用領域包括半導體晶圓測試、汽車電子模塊驗證、5G通信設備老化試驗等工業場景。

檢測方法

接觸電阻測量采用四線法Kelvin連接方式，在DC 100mA測試電流下采集1000次插拔循環數據。絕緣電阻測試使用高阻計施加500V DC電壓持續60秒記錄泄漏電流值。機械壽命試驗通過伺服電機驅動實現每分鐘30次的標準插拔動作。

環境可靠性測試執行JESD22-A104標準：85℃/85%RH條件下進行1000小時濕熱老化；溫度循環按-55℃(30min)→125℃(30min)進行500次循環沖擊。高頻特性采用矢量網絡分析儀進行S參數測量（1MHz-40GHz），時域反射計分析阻抗連續性。

檢測儀器

關鍵設備需定期通過NIST可溯源標準件進行計量校準：接觸電阻標準片（SRM 2223）、溫度傳感器（PT100 Class AA）、力值傳感器（HBM U9B）等計量器具的校準周期不超過12個月。

檢測流程

1、咨詢：提品資料(說明書、規格書等)

2、確認檢測用途及項目要求

3、填寫檢測申請表(含公司信息及產品必要信息)

4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測)

5、收到樣品，安排費用后進行樣品檢測

6、檢測出相關數據，編寫報告草件，確認信息是否無誤

7、確認完畢后出具報告正式件

8、寄送報告原件