因業務調整，部分個人測試暫不接受委托，望見諒。

檢測項目

光學元件質量評價體系包含四大核心指標：

表面質量：涵蓋劃痕/麻點（MIL-PRF-13830B標準）、表面粗糙度（Ra≤5nm）、清潔度等級（ISO 10110-5）

光學性能：透射率/反射率偏差（±0.5%）、波前畸變（λ/10@632.8nm）、偏振特性（消光比≥1000:1）

幾何參數：曲率半徑公差（±0.1%）、中心厚度偏差（±10μm）、面形精度（PV≤λ/4）

環境可靠性：溫度循環（-40℃~+85℃×5次）、濕熱試驗（85%RH×240h）、機械振動（20g@50-2000Hz）

檢測范圍

本檢測體系適用于以下光學組件：

基礎光學元件：球面/非球面透鏡、直角棱鏡、窗口片、濾光片組

精密光學器件：激光諧振腔鏡（損傷閾值≥5J/cm2）、紅外硫系玻璃透鏡（3-12μm波段）、微透鏡陣列（單元尺寸≥50μm）

功能化組件：偏振分光立方體（消光比≥30dB）、衍射光學元件（衍射效率≥85%）、超表面結構（特征尺寸≤λ/2）

特殊應用器件：航天級反射鏡（CTE≤5×10??/℃）、X射線聚焦鏡（表面粗糙度≤0.5nm）、光子晶體光纖端面（角度偏差≤0.5°）

檢測方法

依據ISO 10110系列標準建立分級檢測流程：

干涉測量法：采用相移干涉術測量面形誤差（4D動態干涉儀），Zygo MetroPro軟件進行Zernike多項式分解

散射光分析法：基于BSDF函數表征表面散射特性（TIS≤1%），使用CASI散射儀進行全角度測量

分光光度法：紫外-可見-近紅外分光系統（波長范圍190-2500nm），積分球附件測定絕對透反射率

輪廓掃描法：白光干涉輪廓儀實現納米級粗糙度測量（掃描長度4mm×4mm），符合ISO 4287參數體系

環境模擬法：三綜合試驗箱執行ISTA 3A標準振動譜型，熱真空室模擬空間環境（真空度≤1×10??Pa）

數字圖像處理法：機器視覺系統自動識別表面缺陷（最小檢出尺寸5μm），基于深度學習算法分類瑕疵類型

檢測儀器

標準實驗室配置以下核心設備組：

精密干涉儀組：4D Technology動態干涉儀（精度λ/100）、Zygo Verifire MST多波長干涉系統

光譜分析系統

微觀形貌分析組

力學環境設備組

潔凈度測試組

輔助計量設備組

檢測流程

1、咨詢：提品資料(說明書、規格書等)

2、確認檢測用途及項目要求

3、填寫檢測申請表(含公司信息及產品必要信息)

4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測)

5、收到樣品，安排費用后進行樣品檢測

6、檢測出相關數據，編寫報告草件，確認信息是否無誤

7、確認完畢后出具報告正式件

8、寄送報告原件