因業務調整，部分個人測試暫不接受委托，望見諒。

檢測項目

電容量偏差、損耗角正切值（tanδ）、直流漏電流、等效串聯電阻（ESR）、阻抗頻率特性、額定電壓耐受性、反向電壓承受能力、高溫負荷壽命（85℃/125℃）、溫度循環試驗（-55℃~125℃）、濕度負荷試驗（85℃/85%RH）、耐焊接熱測試、機械沖擊試驗（1500G）、振動試驗（10~2000Hz）、端子強度測試（拉力/推力）、外觀檢查（裂紋/變形）、X射線內部結構分析、陰極二氧化錳層厚度測量、陽極鉭粉比容測定、封裝氣密性測試（氦質譜法）、絕緣電阻（500VDC）、恢復電壓特性、浪涌電流承受能力、高溫貯存特性（175℃）、低溫啟動性能（-65℃）、可燃性測試（UL94）、可焊性評估（潤濕平衡法）、端子鍍層成分分析（EDS）、加速壽命試驗（3倍額定電壓）、失效模式分析（FMA）、微觀結構觀測（SEM）

檢測范圍

CAK45型樹脂封裝鉭電容、CT41型模壓封裝鉭電容、TAC系列軸向引線式鉭電容、SMD貼片式A殼規格鉭電容、高可靠軍品級TAJ系列鉭電容、低ESR有機聚合物混合鉭電容、耐高溫液態電解質鉭電容、超小型0201封裝鉭電容、多陽極陣列式鉭電容組、抗振型環氧灌封鉭電容模塊、高容量卷繞式鉭電解電容器、耐反向電壓雙極性鉭電容、低漏電流醫療級鉭電容、汽車電子用AEC-Q200認證鉭電容、航天級真空密封鉭電容組件、射頻濾波用高頻低阻抗鉭電容、脈沖功率型儲能鉭電容組、抗硫化處理工業級鉭電容、三端子噪聲抑制型鉭電容陣列、基板埋入式微型化鉭電容元件

檢測方法

1.電容量測量采用LCR數字電橋法（20Hz~100kHz），依據額定電壓的10%偏置條件進行
2.漏電流測試執行恒壓法（25℃3℃），施加1.1倍額定電壓保持120秒后讀數
3.ESR測定使用四端對開爾文連接方式，在100kHz頻率下測量交流阻抗實部
4.高溫負荷試驗采用強制對流恒溫箱（125℃2℃），施加1.5倍額定電壓持續1000小時
5.X射線檢查使用微焦點CT系統（分辨率≤5μm），三維重構內部電極結構完整性
6.氣密性檢測采用氦質譜檢漏儀（靈敏度≤510^-9Pam/s），真空室加壓至0.5MPa氦氣
7.機械沖擊測試依據半正弦波沖擊波形（峰值加速度1500G/0.5ms），XYZ三軸各沖擊3次
8.陰極層厚度測量通過FIB-SEM聯用系統進行截面制備與納米級尺度標定
9.失效分析采用熱激發電流譜（TSC）定位介質氧化膜缺陷位置
10.可焊性評估使用潤濕平衡測試儀記錄0~3秒內焊料爬升高度曲線

檢測標準

IEC60384-3:2016電子設備用固定電容器-第3部分：分規范表面安裝MnO2鉭固定電容器
GB/T7332-2011電子設備用固定電容器第8部分:分規范1類瓷介固定電容器
MIL-PRF-55365H宇航級固體電解質鉭電容器通用規范
EIA-535BAAC-A表面貼裝鉭電容器應力測試標準
JISC5101-7:2014電子設備用固定電容器試驗方法通則
AEC-Q200RevE汽車電子元件可靠性驗證標準
GJB63B-2001有可靠性指標的固體電解質鉭電容器總規范
ESCC3009/017歐洲航天元器件委員會鉭電容認證標準
IPC-TM-6502.6.3A表面貼裝元件可焊性測試方法
UL810-2018電容器安全認證標準

檢測儀器

1.LCR精密測試儀（KeysightE4980AL）：實現0.05%基本精度下的寬頻阻抗參數測量
2.高加速壽命試驗箱（ESPECTABAIPL-3J）：提供-70℃~+180℃快速溫變環境模擬
3.半導體參數分析儀（Keithley4200A-SCS）：納安級漏電流精確測量與I-V特性分析
4.X射線實時成像系統(YxlonFF35CT)：20μm空間分辨率下的無損內部結構檢驗
5.振動控制系統(LDSV964)：最大載荷50kg的三軸隨機振動譜復現能力
6.熱重分析儀(TAQ500)：測定二氧化錳分解溫度與失重曲線(20~1000℃)
7.掃描電子顯微鏡(HitachiSU8010)：5nm分辨率下的微觀形貌與元素面分布分析
8.氦質譜檢漏儀(PfeifferASM340)：實現510^-9Pam/s級泄漏率精確測量
9.介質擊穿測試儀(HipotronicsHDC系列)：0~5kV直流耐壓與絕緣電阻同步監測
10.熱沖擊試驗箱(WeissTS-780)：液氮冷卻實現-65℃~+175℃兩箱法快速溫變

檢測流程

1、咨詢：提品資料(說明書、規格書等)

2、確認檢測用途及項目要求

3、填寫檢測申請表(含公司信息及產品必要信息)

4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測)

5、收到樣品，安排費用后進行樣品檢測

6、檢測出相關數據，編寫報告草件，確認信息是否無誤

7、確認完畢后出具報告正式件

8、寄送報告原件