因業(yè)務(wù)調(diào)整，部分個人測試暫不接受委托，望見諒。

檢測項(xiàng)目

表面粗糙度、透光率、折射率、色差、光潔度、光譜響應(yīng)、涂層厚度、霧度、散射特性、偏振度、光學(xué)均勻性、波前畸變、曲率半徑、焦距偏差、光斑尺寸、像散分析、MTF調(diào)制傳遞函數(shù)、透過波像差、雙折射效應(yīng)、熒光強(qiáng)度、發(fā)光效率、色溫一致性、光通量衰減率、激光損傷閾值、濾光片截止帶寬、棱鏡角度偏差、光纖數(shù)值孔徑、光學(xué)元件面形精度、薄膜應(yīng)力分布、光學(xué)系統(tǒng)裝調(diào)誤差

檢測范圍

光學(xué)透鏡、棱鏡組、濾光片組件、激光晶體材料、光纖連接器端面、顯示屏背光模組、光伏玻璃基板、醫(yī)用內(nèi)窺鏡鏡片、汽車大燈配光鏡、航天相機(jī)鏡頭組、半導(dǎo)體晶圓表面鍍膜層、AR/VR光學(xué)模組投影鏡頭組件

檢測方法

1.分光光度法：通過測量樣品對不同波長光的吸收/透射特性計算透光率與光譜曲線
2.激光干涉測量：利用邁克爾遜干涉原理檢測光學(xué)元件面形精度與波前誤差
3.白光輪廓術(shù)：采用垂直掃描技術(shù)實(shí)現(xiàn)納米級表面粗糙度三維形貌重建
4.橢偏儀分析法：通過偏振光反射特性測定薄膜厚度與復(fù)折射率
5.積分球測試系統(tǒng)：基于全空間光收集原理測量光源光通量及色度參數(shù)
6.剪切干涉法：通過波前錯位干涉條紋分析光學(xué)系統(tǒng)像差分布
7.共聚焦顯微術(shù)：利用空間針孔濾波實(shí)現(xiàn)亞微米級表面缺陷三維成像
8.激光散射法：通過散射光強(qiáng)分布反演表面顆粒污染物濃度與粒徑分布
9.莫爾條紋技術(shù)：基于光柵干涉原理測量大尺寸光學(xué)元件的曲率半徑偏差
10.熱成像分析法：通過紅外輻射分布檢測光學(xué)元件的熱變形與應(yīng)力集中區(qū)域

檢測標(biāo)準(zhǔn)

ISO10110-5:2015光學(xué)和光子學(xué)-光學(xué)元件制圖要求-第5部分：表面形狀公差
GB/T26397-2011光學(xué)功能薄膜透過率測試方法
ASTME903-12使用積分球法測定材料太陽吸收比的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
ISO13653:2019光學(xué)和光子學(xué)-顯微鏡物鏡的成像質(zhì)量評價方法
GB/T13323-2009光學(xué)零件表面疵病檢驗(yàn)方法
IEC61228:2020紫外熒光燈紫外輻射測量方法
ISO14997:2018光學(xué)元件激光誘導(dǎo)損傷閾值測試方法
GB/T7962.4-2010無色光學(xué)玻璃測試方法第4部分：折射率溫度系數(shù)
ASTMD1003-21透明塑料霧度和透光率的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
ISO9342-1:2021顯微鏡物鏡的放大倍率校準(zhǔn)規(guī)范

檢測儀器

1.分光光度計：配置積分球附件可完成透射/反射/吸收光譜的精確測量
2.激光干涉儀：采用相移干涉技術(shù)實(shí)現(xiàn)λ/100精度的面形誤差分析
3.輪廓儀：觸針式與白光干涉式兩種類型滿足不同量程的表面粗糙度測試需求
4.橢偏儀：配備自動變角機(jī)構(gòu)可完成寬光譜范圍的薄膜特性表征
5.MTF測試儀：通過狹縫掃描法測定光學(xué)系統(tǒng)的空間頻率響應(yīng)特性
6.積分球光譜輻射計：直徑2米的積分球可精確測量大功率LED光源參數(shù)
7.共聚焦顯微鏡：配置405nm激光光源實(shí)現(xiàn)0.1nm縱向分辨率的表面形貌測量
8.激光散斑儀：基于動態(tài)散斑分析技術(shù)評估光學(xué)元件的亞表面損傷程度
9.熱像儀：640512像素紅外探測器可捕捉0.03℃的溫度變化分布
10.ZYGO干涉儀：配備動態(tài)相位測量模塊支持振動環(huán)境下的高精度波前檢測

檢測流程

1、咨詢：提品資料(說明書、規(guī)格書等)

2、確認(rèn)檢測用途及項(xiàng)目要求

3、填寫檢測申請表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)

4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測)

5、收到樣品，安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測

6、檢測出相關(guān)數(shù)據(jù)，編寫報告草件，確認(rèn)信息是否無誤

7、確認(rèn)完畢后出具報告正式件

8、寄送報告原件