因業務調整，部分個人測試暫不接受委托，望見諒。

檢測項目

貴金屬純度測定包含黃金（Au）、白銀（Ag）、鉑族金屬（Pt、Pd）等主成分含量分析；合金材料需同步測定銅（Cu）、鋅（Zn）、鎳（Ni）等輔料配比；雜質元素檢測涵蓋鉛（Pb）、鎘（Cd）、汞（Hg）等8種有害物質限量控制；特殊制品需進行表面鍍層厚度與成分分層測試。

文物類貴金屬需實施無損成分鑒定；工業用觸點材料須測定導電率與成分相關性；珠寶首飾類重點驗證貴金屬印記標識符合性；投資類金條執行質量偏差與尺寸公差雙重驗證。

檢測范圍

珠寶首飾類：足金/千足金飾品、K金鑲嵌件、銀質擺件及925銀制品；投資交易類：標準金錠、銀幣、紀念章及貴金屬衍生品；工業材料類：電子觸點用金銀合金絲、真空鍍膜靶材、牙科用貴金屬鑄造件；文物考古類：古代金銀器皿、錢幣及出土金屬文物。

特殊形態材料包含粉末冶金制品、納米級貴金屬涂層、復合型雙金屬板材；再生資源類涵蓋貴金屬廢料提純物、電鍍廢液回收料及催化劑殘渣。

檢測方法

X射線熒光光譜法（GB/T 18043）適用于表面成分快速篩查；火試金法（GB/T 9288）作為仲裁方法用于高精度成色分析；電感耦合等離子體質譜法（ICP-MS）可檢出ppb級痕量元素；密度法配合阿基米德原理驗證實體材料致密度。

掃描電鏡-能譜聯用技術（SEM-EDS）用于微觀結構成分分析；輝光放電質譜法（GD-MS）實現深度剖面檢測；庫侖法測定銀制品表面氧化層厚度；激光誘導擊穿光譜（LIBS）支持三維立體成分測繪。

檢測儀器

波長色散型X射線熒光光譜儀（WDXRF）配備4kW銠靶射線管；全自動火試金分析系統包含高溫熔融爐與精密分金天平；電感耦合等離子體發射光譜儀（ICP-OES）配置雙向觀測系統；顯微紅外光譜儀用于有機物污染鑒定。

超微量天平精度達0.001mg；惰性氣體保護熔樣機防止樣品氧化；三維坐標測量儀執行幾何尺寸驗證；非接觸式激光測厚儀滿足鍍層厚度測定需求；同步熱分析儀同步獲取成分與熱力學參數。

實驗室環境實行溫濕度雙參數控制（23±1℃，45%RH±5%），配備Class 100潔凈操作臺防止交叉污染。所有儀器均通過CNAS量值溯源體系認證，標準物質覆蓋GBW系列國家一級標準物質。

檢測流程

1、咨詢：提品資料(說明書、規格書等)

2、確認檢測用途及項目要求

3、填寫檢測申請表(含公司信息及產品必要信息)

4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測)

5、收到樣品，安排費用后進行樣品檢測

6、檢測出相關數據，編寫報告草件，確認信息是否無誤

7、確認完畢后出具報告正式件

8、寄送報告原件