因業務調整，部分個人測試暫不接受委托，望見諒。

 　　北京中科光析科學技術研究所根據相應半導體激光器檢測標準為您提供各種樣品的波長、輸出功率、譜線寬度、線性度、效率、溫度穩定性、噪聲、脈沖響應、相位噪聲、激光束質量等各種半導體激光器檢測項目的分析測試。中析研究所具備CMA資質認證，是一家高新技術企業，屬于正規的第三方檢測機構。我們的檢測周期短，檢測費用低，給予您優質、便捷的服務和準確的檢測結果。

服務項目

　　中析研究所可提供波長穩定性、輸出功率穩定性、光譜線寬度、波長調諧范圍、波長精度、光譜純度、相位噪聲、效率、調制帶寬、噪聲指數、工作溫度范圍、工作電流范圍、閾值電流、斜率效率、工作壽命、發射速度、抑制比、反向電壓、差分量子效率、量子效率、泵浦功率、脈沖寬度、脈沖重復頻率、脈沖能量、自發輻射損失、瞬時頻率偏移、激光束發散角、模式抑制比、模式間隔、調制深度、過調制損耗、同軸模式品質因數、動態變化響應時間、光電流線性度、耦合效率等項目的檢測。

服務范圍

　　半導體激光器檢測一般包括：全息激光器、雙折射激光器、DFB激光器、VCSEL激光器、FP激光器、DBR激光器、QCL激光器、Raman激光器、THz激光器、CO2激光器等。

參考標準

　　GB/T 15651.4-2017 半導體器件 分立器件 第5-4部分：光電子器件 半導體激光器

　　GB/T 21548-2021 光通信用高速直接調制半導體激光器的測量方法

　　GB/T 31358-2015 半導體激光器總規范

　　GB/T 31359-2015 半導體激光器測試方法

　　GB/T 42597-2023 微機電系統(MEMS)技術 陀螺儀

　　IEC 60747-5-4-2006 半導體器件 分立器件 第5-4部分:光電子器件 半導體激光器件

　　JIS C5940-1997 光傳輸用半導體激光器通則

　　JIS C5941-1997 光傳輸用半導體激光器試驗方法

相關儀器設備

　　半導體激光器檢測涉及的儀器包括：

　　激光功率計：用于測量半導體激光器的輸出功率。激光功率計通常包括光功率探測器和顯示器，可以測量激光的功率和功率穩定性。

　　光譜儀：用于分析半導體激光器的光譜特性。光譜儀可以測量激光器的波長、光譜分布和線寬等參數，評估激光器的光學性能。

　　溫度控制設備：用于精確控制半導體激光器的工作溫度。溫度對半導體激光器的性能穩定性和壽命有重要影響，因此需要通過溫度控制設備來保持恒定的工作溫度。

　　光學顯微鏡：用于檢查半導體激光器的外觀和內部結構。光學顯微鏡可以觀察激光器的封裝質量、焊接連接、芯片狀況等，幫助評估激光器的制造質量。

　　效率測試設備：如外部量子效率測試儀，用于評估半導體激光器的效率。這些儀器可以測量激光器的電光轉換效率、光電轉換效率等參數，確定激光器的性能和質量。